二手泛林 LAM RESEARCH 839-800327-509B 加热盘技术规格详解
作者:
海翔科技
作者机构:
海翔科技
发表时间:
2026-09-10

#半导体

该部件实际为集成加热功能的 Electrostatic Chuck(ESC 静电卡盘,行业俗称加热盘),适配 300mm(12 英寸)Wafer 晶圆,属于 Flex Ex + 刻蚀腔体核心载台组件,整体重量 6.72kg,采用 AlN 氮化铝陶瓷基材,集成多区加热回路与双极静电吸附电极,配套 Helium 背侧冷却气体通道。载台支持闭环多区域温度控制,可在 Vacuum 真空等离子 Etch 刻蚀工况下稳定控温,具备优良的温度均匀性,可降低晶圆片内温差;集成 Lift-Pin 顶针孔位,完成晶圆的装载与卸载,可承受等离子体腐蚀环境,适配 RF 射频耦合工艺。卡盘内置残余电荷释放回路,降低 Residual Charge 对晶圆造成的静电损伤,底部集成电气接头、测温传感器接口与气体接口,实现夹持电压、温度信号与背吹氦气的传输,保障批次间工艺稳定性。

该部件实际为集成加热功能的 Electrostatic Chuck(ESC 静电卡盘,行业俗称加热盘),适配 300mm(12 英寸)Wafer 晶圆,属于 Flex Ex + 刻蚀腔体核心载台组件,整体重量 6.72kg,采用 AlN 氮化铝陶瓷基材,集成多区加热回路与双极静电吸附电极,配套 Helium 背侧冷却气体通道。载台支持闭环多区域温度控制,可在 Vacuum 真空等离子 Etch 刻蚀工况下稳定控温,具备优良的温度均匀性,可降低晶圆片内温差;集成 Lift-Pin 顶针孔位,完成晶圆的装载与卸载,可承受等离子体腐蚀环境,适配 RF 射频耦合工艺。卡盘内置残余电荷释放回路,降低 Residual Charge 对晶圆造成的静电损伤,底部集成电气接头、测温传感器接口与气体接口,实现夹持电压、温度信号与背吹氦气的传输,保障批次间工艺稳定性。

二手保养方法:维护作业需在 Class100 洁净环境并落实 ESD 静电防护;目视检查陶瓷工作面裂纹、点蚀、聚合物沉积,检测 Lift-Pin 通孔磨损;执行绝缘阻抗检测、加热回路通断校验,检测 He 背吹气路泄漏与堵塞情况;检查底部连接器有无氧化、形变,清洁接口污染物;开展加热升温循环测试与静电吸附 - 释放跑合验证;闲置时密封防潮存放,防止介质层受潮,禁止空载长期施加高压。


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