SHIMADZU SMX-160GT为半导体行业专用微焦点X射线透视检测设备（Micro-focus X-ray Inspection System），广泛应用于芯片封装（Chip Packaging）、PCB微结构、焊点缺陷（Solder Joint Defect）无损检测场景。
该设备核心硬件参数精准可控，搭载开放式微焦点X射线管（Open Micro-focus X-ray Tube），最高管电压160kV，具备1μm超高焦点分辨率，可捕捉半导体微纳结构微观缺陷。设备集成透视检测与CT扫描双功能，适配精密元器件二维成像与三维层析检测需求，成像精度可满足高阶半导体精密检测标准。设备适配多规格半导体工件检测，兼容常规精密元器件无损检测工况，成像稳定性、分辨率适配中高端封装检测场景。
二手设备专项保养需遵循标准化规范：定期清洁X射线镜头与检测载台粉尘，避免异物遮挡成像光路；保持设备恒温恒湿运行环境，规避温湿度波动引发的射线管参数偏移；周期性校准成像分辨率与焦点精度，及时更新设备检测参数；闲置时段断电防尘，定期检测射线防护模块与电路系统，保障设备运行稳定性与检测精度。
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