NEW WAVE QT100为非接触式光学影像测量仪（Vision Measuring Machine），面向半导体封装（Semiconductor Packaging）、PCB微结构、MEMS器件二维形貌检测。设备测量行程X/Y为83mm×63mm，Z轴工作行程60mm，搭载双远心光学镜头（Telecentric Lens），光学倍率0.088X；图像传感器采用2000万像素CMOS，图像灰度等级256级，最小显示分辨率0.001mm。设备测量精度指标为±(2.5+L/50)μm，L代表被测长度，支持轮廓远心平行光源与程控环形表面光源，可选配同轴光源（Coaxial Light），适配半导体微小引脚、光刻图形轮廓检测。整机承重3kg，外形尺寸280×380×670mm，工作环境要求温度20℃±2℃、湿度30%~80%无凝露，电源规格220V/50Hz。
二手设备保养方面，优先保持大理石平台（Marble Stage）防尘，定期用无尘布配合异丙醇清洁载物台面，禁止硬质工件直接刮擦；光学镜头（Optical Lens）仅使用镜头纸轻拭，严禁有机溶剂浸泡；定期校准光栅尺（Linear Encoder），检查光源模组亮度衰减，闲置时覆盖防尘罩，减少粉尘污染CCD传感器，每季度执行精度复测，保障Metrology量测稳定性。
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