本机型搭载 UIS2 无限远校正光学系统（Infinity Corrected Optical System），适配半导体 Wafer、MEMS 器件、薄膜样品的形貌与荧光缺陷检测。整机采用固定载物台、物镜转盘 Z 向聚焦结构，Z 轴电动调节分辨率 0.01 μm，行程 20 mm，配置 7 孔电动物镜转盘，支持 1.25X 至 100X 物镜切换；标配 BX3-UCD8A 电动通用聚光镜，最高 NA 1.4，工作距离 0.63 mm，可摇摆切换适配低倍观测。
观察视场数 FN22，支持明场（Bright Field）、暗场（Dark Field）、相衬（Phase Contrast）、落射荧光（Epifluorescence，UV/B/G 激发）、简易偏光（Polarization）、微分干涉（DIC）多种观测模式。透射柯勒照明（Köhler Illumination）可选真彩 LED 或 12V 100W 卤素光源，落射荧光支持 100W 汞灯、光导照明，内置电动 ND 衰减轮调节光强。整机外形尺寸 294.5 mm×740.5 mm×582.5 mm，荧光配置自重 35 kg，工作温度区间 5 ℃–40 ℃。
二手保养需定期清洁滤光片组（Filter Cube）与物镜前表面，避免半导体工艺粉尘附着；定期检查电动转轴、超声波载物台润滑状态，闲置时加盖防尘罩，光源模块单独存放防潮，通电前确认通信线路无老化，避免频繁启停 Z 轴驱动组件。
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