二手泛林 LAM RESEARCH 2300 KIYO 刻蚀机腔体技术规格详解
作者:
海翔科技
作者机构:
海翔科技
发表时间:
2026-06-08

#半导体

泛林LAM RESEARCH 2300 KIYO刻蚀机腔体为300mm(12英寸)晶圆等离子体刻蚀(Plasma Etch)核心工艺模块,采用感应耦合等离子体(ICP)架构,可独立调控离子浓度与离子轰击强度,适配半导体前段制程(FEOL)、后段制程(BEOL)多类干法刻蚀(Dry Etch)工艺,支持1–6个工艺腔体(Process Chamber)并行配置,设备吞吐量(Throughput)较传统机型提升25%。

泛林LAM RESEARCH 2300 KIYO刻蚀机腔体为300mm(12英寸)晶圆等离子体刻蚀(Plasma Etch)核心工艺模块,采用感应耦合等离子体(ICP)架构,可独立调控离子浓度与离子轰击强度,适配半导体前段制程(FEOL)、后段制程(BEOL)多类干法刻蚀(Dry Etch)工艺,支持1–6个工艺腔体(Process Chamber)并行配置,设备吞吐量(Throughput)较传统机型提升25%。

该腔体温控系统参数精准可控,腔体侧壁加热功率2.5kW,温控精度±1.2℃,升温响应≤90s;气体输送管线加热功率300W/m,温控误差±0.8℃,升温响应<30s。腔体核心耗材采用碳化硅(SiC)衬套与钇稳定氧化锆(YSZ)涂层电极,耐温超300℃,标准工艺使用寿命可达2000小时,抗等离子体侵蚀性能优异,保障刻蚀均匀性与工艺稳定性。

针对二手腔体运维,需落实标准化保养:日常检测腔体真空度(Vacuum Degree)与密封气密性,规避等离子体放电异常;每周清洁喷淋头(Shower Head)及腔体内部聚合物沉积(Polymer Deposition);每月校准气体质量流量控制器(MFC)与温控模块;每季度更换老化密封件,检测防护涂层磨损状态,长期停机需做腔体烘烤与真空复测,保障制程精度达标。

合规溯源声明:本文所有技术参数均源自泛林原厂公开技术手册及行业公开招标公示资料,仅用于行业技术交流,不做任何商业用途。

海翔科技 专业提供全球二手半导体设备。



二手泛林 LAM RESEARCH 2300 KIYO 刻蚀机腔体技术规格详解

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本文全部技术参数、结构原理、机型适配及对比数据,均源自设备原厂官方资料、权威标准文献及公开招标验收文件,仅用于技术研究、方案对比及行业参考,不作任何商业用途。

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