二手东京电子 TEL/TOKYO ELECTRON CELESTA+ 晶圆清洗设备技术规格详解
作者:
海翔科技
作者机构:
海翔科技
发表时间:
2026-06-22

#半导体


CELESTA + 属于 300mm 单晶圆清洗设备(Single Wafer Cleaner),适配 12 英寸硅晶圆(Si Wafer),整机标配 12 组工艺腔室(Process Chamber),基础模组包含 SC1 清洗单元、SC2 清洗单元、DHF(1:10)蚀刻单元、O3 臭氧清洗单元、IPA 干燥单元、SVOS 物理刷洗单元、CO₂药液注入模块,配套独立药液浓度在线监测仪,N₂氮气高精度流量控制器全程控气。设备原生吞吐量可达 600wph(wafer per hour),搭载非接触式激光边缘检测头(Non-contact Static Edge Detector),实现晶圆正面、背面、斜面(Bevel)全域 360° 覆盖清洗,旋转喷淋头高频多轴联动,颗粒去除(Particle Removal)可管控 0.06μm 级微颗粒,支持 Post Etch Clean、Post CMP Clean、扩散前预清洗等湿法制程(Wet Process)。

二手设备日常保养需分模块执行:腔室每周拆解 PTFE 喷淋管路、更换过滤器(Filter);药液循环系统每半月校准浓度传感器,排空废液管路结晶残留;晶圆承载吸盘(Wafer Chuck)单次停机清洁,避免接触划伤图形晶圆(Pattern Wafer);真空泵、臭氧发生器月度检漏,更换干燥滤芯;整机年度全面拆机,校验机械手(Robot Transfer)重复定位精度,同步更新设备控制程序固件。长期闲置需排空全部药液管路,通入高纯 N₂密封腔体,防止金属管路氧化污染。


二手东京电子 TEL/TOKYO ELECTRON CELESTA+ 晶圆清洗设备技术规格详解

 

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