东京电子(TOKYO ELECTRON, TEL)VCM-50-003L真空腔体(Vacuum Chamber)是半导体刻蚀(Etching)、薄膜沉积(Thin Film Deposition)设备的核心工艺腔体,适配8英寸晶圆(Wafer)制程,所有性能参数均源自设备原厂技术手册及公开设备招标公示资料,仅作技术交流,不做商业用途。
该腔体为高真空密闭工艺腔体(High Vacuum Sealed Chamber),基准工作真空度(Working Vacuum)可达1×10⁻⁷Pa,极限真空度(Ultimate Vacuum)≤8×10⁻⁸Pa,压力稳定精度(Pressure Stability)±0.5%FS,可规避工艺气体扰动造成的制程偏差。腔体适配工艺温度区间25℃–450℃,温度均匀性(Temperature Uniformity)≤±1.5℃,满足半导体精密制程温控要求。其标准腔体容积50L,法兰密封面采用高纯铝合金材质,平面度精度≤2μm,保障真空密封(Vacuum Sealing)稳定性。
针对二手设备运维,专属保养方法如下:定期拆解清洗腔体内部沉积物(Process Deposition),每季度检测密封圈(Sealing Ring)老化形变情况;每月校准真空检漏(Vacuum Leak Detection),确保漏率≤5×10⁻⁹Pa·m³/s;长期停机需充入高纯氮气(High-purity Nitrogen)封存,避免内壁氧化污染。
该腔体结构兼容性强、真空性能稳定,经合规保养后可完全满足二手半导体设备量产复用标准。


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