岛津 SHIMADZU 检测仪 SMX-160GT 是 X 射线微焦点透视检查设备，采用 1μm 微焦点管球，支持高分辨率透视与 CT 功能，最高放大 2700 倍，可进行 3D-CT 重建及三维尺寸测量。其超高速重建系统和精细补偿模式确保高质量图像输出，具备自动定位、标记及故障通知功能。主要应用于 IC 盘 BGA 检测、基板通孔分析、电子元件内部结构检查等，适用于半导体封装、电子制造领域的精密无损检测。