SHIMADZU X 射线检测系统 SMX2000 专为工业无损检测设计，具备高精度成像与三维断层扫描能力，可穿透材料内部识别缺陷如裂纹、空洞或异物58。其微焦点 X 射线源结合高分辨率探测器，实现微米级检测精度，适用于半导体封装、电路板焊点、汽车压铸件及航空航天材料的内部结构分析48。该系统通过自动化软件支持快速检测与缺陷分类，广泛应用于电子制造、汽车工业及精密机械领域的质量控制58。