SEMICS 探针台 OPUS - II 具有高精度定位、缺陷分析等功能，配备多种传感器和相机，可准确检测晶圆缺陷。适用于 SOC、Memory 等多种类型产品测试，涵盖半导体晶圆检测、芯片研发及失效分析等领域。