MOSAID MS 3490是为介电在硅（DOSS）器件的电气测试和分析而设计的最终测试设备。该系统旨在提高分析和测试下一代DOSS半导体器件的准确性和速度，如显示驱动程序IC和高速逻辑IC。它提供高吞吐量测试和分析功能,最大吞吐量为每秒160台设备。MS 3490利用多功能扫描显微镜对被测设备进行高精度成像。显微镜具有高精度的电动x-y级，精度小于5µm。可用于成像、外延层检测、漏电电流映射和功耗测量。为了进行测试，该装置配备了一个特殊的三维测试头，具有晶片级封装、激光束缚器和对准器，以及光源机和温度传感器。MOSAID MS 3490工具还包括一个作为资产大脑的先进控制器。它能够同时控制成像和测试设备,从而实现无缝和自动化的测试过程。控制器还采用了数据采集模型，记录电压和电流测量数据以及成像操作的结果。除了测试和成像功能外，MS 3490还能够生成高效的分析报告，其中包括统计数据、表格数据、图形数据和图像。数据可以各种文件格式导出,以便进一步分析。总体而言,MOSAID MS 3490是一种功能强大且用途广泛的最终测试设备,能够快速准确地测试和分析DOSS设备。其高精度显微镜功能、先进的测试技术和精密的控制器确保了简化和高效的过程,使制造商能够在生产优质设备的同时按时完成生产。