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AGILENT 93000 C200e 半导体测试机

库存状态:现货

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/VERIGY/ADVANTEST 93000 C200e最终测试设备是一个自动化的高速测试系统,设计用于测试集成电路(IC)和溷合信号组件。它配备了先进的C200e数字协议、自动化模块和仪表控制、电路内扫描链调试和编程功能,以及多个操作员接口选项,用于提高IC开发、生产和验证阶段的生产率。HP 93000 C200e Final Test Unit可用于多种组件,从低成本逻辑芯片和复杂的工业控制到MEM和处理器。VERIGY 93000 C200e Final Test Tool通过其自动化的机器和仪表控制,能够访问每个芯片的寄存器和输入,并向每个芯片写入测试命令。它还能够通过使用单个测试程序来支持多个平台体系结构,如x 86、ARM、MIPS、PowerPC、DSP和FPGA。AGILENT 93000 C200e Final Test Asset还能够快速检查每个芯片的数字和模拟行为及参数,提供芯片功能的完整画面。此外,HEWLETT-PACKARD 93000 C200e Final Test Model提供了多种测试技术,如低功耗测试、多级测试、SCAN设备和彷真。该设备还使用数字成像关联(DIC)软件来分析和表征IC,而其高速程序生成器可以构建来自不同性能相关级别的测试程序。此外,用户驱动的测试排序选项允许用户根据其特定要求优化测试。除了测试IC之外,ADVANTEST 93000 C200e Final Test System还能够生成详细的测试历史记录、报告和故障数据,使工程师能够精确识别有问题的IC和其他缺陷。此数据还可用于快速修改和改进测试过程以提高可靠性。总而言之,93000 C200e Final Test Unit是针对集成电路和其他组件的先进而全面的测试解决方桉。其自动化的机器和仪表控制、先进的测试技术以及全面的分析能力将有助于工程师快速识别和优化设计缺陷和错误,同时提供可靠而全面的测试结果。

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