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TERADYNE 5539Ci+ 半导体测试机

库存状态:现货

TERADYNE 5539Ci+Final Test Equipment是一个先进的生产测试平台,旨在对广泛的消费电子和其他复杂集成电路(IC)进行快速可靠的功能测试。该系统提供了一个多用途、以测试为中心的平台,使用户可以轻松配置和实施各种类型的电气功能测试,如刻录、ICT和Hipot测试。5539Ci+Final Test Unit以市场领先的J750机型为动力,旨在提供最大的吞吐量、准确性和灵活性。它利用多种先进技术来确保最大正常运行时间和降低拥有成本。其中包括一个开放的I/O体系结构,以便与其他仪器轻松集成,以及一个功能强大的自动化测试流编程语言,用于快速创建和修改测试计划。该机具有广泛的内置测试仪器,包括ICBurn-in Interface/Crystallizer II、中继驱动程序/电源接口、ICT/FOT测试仪接口、数字逻辑分析仪、高压交流/直流Hipot测试仪和数字信号分析仪。该工具还配备了功能强大的诊断软件,为用户提供了对其测试程序各个方面的全面控制。TERADYNE 5539Ci+Final Test Asset还设计用于最大程度地提高可访问性,具有用于查看测试结果和测试说明的大型液晶显示屏,以及用于从PC或其他设备快速传输数据的USB集成数据采集模型。此外,设备还具有用于连接外部网络的内置以太网端口,允许用户远程监视和控制其测试程序。5539Ci+最终测试系统非常适合各种消费电子产品和复杂集成电路的生产测试,以及燃烧测试和可靠性测试。TERADYNE 5539Ci+Final Test Unit凭借其强大灵活的测试程序、先进的技术和最大的可及性,是一个非常可靠和高效的测试平台。

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售后保障
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根据机器实际情况提供服务
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