KEITHLEY S-250 Final Test Equipment是一种高精度、高速的半导体最终测试系统。它将最新的测试和测量技术与业界最流行的半导体最终测试单元平台相结合。S-250具有完整的8位、16位和32位数字模式测试功能,可提供最高速度和最高精度。该机提供高性能、快速通过/失败决策以及精密、自动的测试流程控制。它可以配置为满足当今最苛刻的测试应用程序的需求。KEITHLEY S-250具有集成的高性能测试头、仪表和I/O,可提供高速吞吐量和精确度。它的8位、16位和32位测试者可以同时评估5个计量工具参数，包括电压、电流、温度、频率和噪声，提供最高水平的测试精度。资产的集成计量学模型可以快速、同时测试所有信号,而无需切换测试模式。S-250支持高级测试和测量技术,例如阻抗测试、高频测量和参数测试。它还支持高级测试和自动化功能，包括自动对焦、自动缺陷隔离、双级OCR（光学字符识别）、条形码读取/解释、自动校准和自动缺陷检测。此外,KEITHLEY S-250还附带了高级控制软件。软件的图形用户界面（GUI）提供了直观、易于使用的测试编程，其内置的测试跟踪和报告功能大幅缩短了测试时间。软件还支持简单的数据比较、灵活的测试定制和集成，以及完整的故障诊断和分析。S-250支持各种ATE（自动测试设备）、附件和其他仪器。它与所有主要测试平台兼容,其分布式体系结构确保了易于扩展和较低的总拥有成本。它还支持SCO（系统兼容开放）和IEEE,以实现更快的测试设置和更高的吞吐量。KEITHLEY S-250实现了快速准确的半导体最终测试过程,其低成本、高性能和高度可靠的设计使其成为产品开发、工程和生产团队的理想选择。它的创新特性、高速和准确性使其成为广泛的半导体测试和测量应用的理想解决方桉。