LORLIN Double Impact（LORLIN DI）是一种最终测试设备，设计用于评估电子设备在两阶段测试过程中的性能。该系统可用于流水线测试、服务中心测试和工程测试实验室环境。第一阶段测试称为"预测试"，旨在快速识别设备中的薄弱区域，以便在第二阶段测试之前确定和解决潜在问题。在预测试期间，LORLIN DI使用自动单元扫描算法来查明任何潜在问题。然后由机器对这些数据进行分析和优先排序,以便进一步调查。第二阶段测试称为"后测试"，使用更详细的诊断方法确认或驳斥测试前的结果。在测试后阶段，LORLIN DI连接到正在测试的设备，并运行内存测试和电源循环等各种操作。该工具还能够检测冷焊接头并评估绝缘电阻、开关参数、二极管测试等重要标准。资产还执行实时3D检查,确保在正确的上下文中维护零件、材料和组件。如果这些"后"测试检测到问题,技术可以自动停止制造过程,从而提醒用户注意问题。LORLIN DI设计采用模块化、可扩展的设计，使其能够轻松适应不同应用和使用规模的需求。它被设计为提供多达900个可以链接到各种探针测试仪的测试引脚，使制造商能够并行测试和控制多个设备。作为Double Impact测试模型,LORLIN DI还集成了机械和电气测试功能,在单个平台上提供了通用的测试解决方桉。该设备还提供先进的故障隔离和修复功能。在测试过程中,用户可以访问实时诊断屏幕,以准确检测和识别故障及其源的位置,然后才能修复故障。图形用户界面显示带有测试结果和故障位置的报告,这些报告可保存以供将来使用。总体而言,LORLIN Double Impact为电子设备的评估提供了一个全面的最终测试系统。这两个阶段的测试过程、先进的故障隔离和修复能力,以及实时测试结果,使设备能够快速、准确和经济高效地进行评估和测试。该单元的模块化和可扩展性设计使其适合一系列应用,从大批量制造到工程测试实验室环境。