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ADVANTEST T 5375 半导体测试机

库存状态:现货

ADVANTEST T 5375是一款功能强大的多合一最终测试设备,旨在提高生产吞吐量并降低任何制造环境中的成本。此通用系统可处理多种溷合匹配组件,使用户能够轻松创建自定义设置。该单元提供了几个集成测试程序,包括由操作员面板控制的模式生成器、测试程序和处理程序,以实现快速测试功能而不会影响质量。ADVANTEST T5375的模式发生器能够生成各种先进的数字测试模式,这些模式经过优化,达到了最高的精度和精度水平。这包括强大的序列编程和增强的测试设置功能,包括多个定时序列和信号分析。它还具有广泛的模拟测试波形库,以减少调试或故障分析所需的时间。T 5375的集成测试器可以处理多种板层测试,包括溷合信号和特定地点的操作。它提供了一系列功能和测试卡选项,包括将VCC电压传递到被测设备(DUT)的功能。这使测试人员能够在必要时模拟操作环境。该测试仪还允许快速测试高密度封装,过渡时间高达150纳秒。T5375处理程序能够以先进的精度传输300毫米或200毫米大小的晶片。处理程序配备了三个强大的电机和一个视觉机器,用于在移动过程中跟踪工件,这使其能够在测试插座之间快速移动,同时保持最高性能水平。此外,处理程序有一个集成的机制,以减少组件损坏,延长其寿命和整体可靠性。ADVANTEST T 5375提供了一个全面的工具,可以快速准确地执行高级板级测试。凭借其强大的集成模式发生器、测试仪和处理程序,该资产能够以快速、可靠和经济高效的方式执行各种测试功能。这种通用的模型对于任何制造环境都是非常宝贵的工具。

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