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TERADYNE J750 半导体测试机

库存状态:现货

TERADYNE J750是一种先进、功能齐全、电路内和功能齐全的测试设备,旨在满足制造商对最新电子技术的需求。该系统能够对具有多种输入和输出引脚的高密度板进行高效、准确的测试。此外,TERADYNE J 750还可以以紧密的外形和高速测试元件,并具有很高的测试精度。J750提供关键节点的高速测试,使其适用于大批量生产环境。它配备了具有快速交换能力的高分辨率512 MB内存,为用户提供了最大的测试灵活性。其电流输出额定为每通道32mA,非常适合测试IGBT、功率晶体管和SCR等高功率设备。J 750单元配备了最新的电路内和功能测试技术。它配备了经过修改的内部体系结构,融合了快速引导功能和增强的内存性能。该机还具有高精度测试的快速校准能力,适合工业应用。TERADYNE J750工具还具有3轴标准平面图,用于改进访问和支持。可扩展,以满足高密度加工的要求。此外,它还配备了先进的隔离技术,以降低硬件和运营成本。为了确保测试的最高精度,TERADYNE J 750资产具有强大而可靠的数据分析包。该模型提供高分辨率缺陷检测和本地化功能,能够快速识别问题并进行故障排除。该设备还具有增强的统计验收水平控制,以确保产品性能和质量控制。此外,J750还配备了先进的可编程性和远程编程。这使用户能够从本地或远程终端访问相同的测试程序。这有助于最大限度地减少错误处理、故障排除和支持成本。J 750的设计提供了最大的测试精度和灵活性。关键特性,如其电路内和功能测试能力、平面图、数据分析包、增强的统计验收水平控制以及可编程性和远程编程,都有助于其提供可靠和准确的测试结果的能力。这使其成为最新技术解决方桉的理想选择。

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