MOSAID MS 4205 Final Test Equipment是一种先进的半导体测试解决方桉，设计用于测试先进的半导体器件。它为各种半导体器件（包括晶体管、二极管和电阻器）的表征提供了可靠高效的解决方桉。该系统能够每小时测试800万台设备,确保快速可靠的测试。该单元由基于Windows的软件界面MOSAID ScanView™提供支持,该界面提供高度自动化的探测、设备特性、调试和分析。它还被设计为支持各种测试场景，如2D扫描映射、参数优化、统计采样和Wafer Level Reliability测试。此外,它还提供了设备执行器和设备状态的同时可视化。MOSAID MS4205 Final Test Machine具有适用于各种应用程序的兼容探针卡,允许用户根据需要定制测试工具。该资产还配备了多种测试资源，如温度和振动室、激光切割机以及各种其他测试资源。模型的软件套件MOSAID ProViewPlus有助于自动设置测试参数并排除测试失败的问题。该设备的设计具有最大的灵活性和可扩展性,为用户提供了广泛的资源来完成测试任务。它包括一台主机PC,它具有各种用于接口外部附件（如打印机）的I/O端口,以及USB、以太网和GPIB连接。该系统还具有集成的LIM和底板,提供快速可靠的测试模式传输和诊断。MS 4205最终测试单元专门设计用于为各种先进半导体器件提供经济高效的精确测试。它具有一系列全面的特性和测试,便于表征和芯片测试,其可扩展性和可靠的性能使其成为各种应用程序的绝佳解决方桉。