ADVANTEST T 5781ES是一种最终测试设备，旨在提供各种测试类型，以支持高度密集、低成本的数字化产品。通过支持一系列测试方法（包括逻辑测试、定时测试和参数化测试）的集成平台,系统旨在简化测试过程,并通过改进的结果更快地将产品推向市场。ADVANTEST T5781ES提供高速逻辑测试,周期时间从900到3,600MHz不等。它结合了低数量单元（LQS）结构和直列布局结构，创造了一个配备了多种工具的测试机器，可以快速准确地进行高带宽测试。LQS结构利用少量包含逻辑和定时测试程序的多处理器内核。这样可以确保测试速度快,并允许使用较小的测试空间,从而降低测试成本。集成定时测试在一个能够达到4GHz以上速度的工具时钟上运行。这样可以以更快的速度传输信号，提高测试结果的速度和准确性。定时测试旨在分析资产性能，快速分析多信号间的定时。T 5781ES还配备了参数化测试,从而提高了性能,并对指定频率范围内的参数进行了全面分析。这些测试通常用于确定设备是否具有指定的增益、噪声数字、转换率和其他参数。参数测试对于在单个模型中测试各种射频设备特别有用。T5781ES旨在支持一系列设备技术,包括高级SiP、WLCSP和MEMS。此外，它还为各种设备应用提供5纳米分辨率支持。此高分辨率测试支持复杂、低开销的产品设计,从而提高了测试精度并提高了产量。总体而言，ADVANTEST T 5781ES是一种功能强大的最终测试设备，支持多种测试类型并支持新的设备技术。通过集成的高速逻辑和定时测试,以及参数化测试,它旨在提供一种高效且经济高效的方法来测试高度复杂的产品。对于希望降低测试成本并更快地将其产品推向市场的任何制造商来说,此系统都是一个极好的选择。