ADVANTEST T 5371是确保电子元件和系统质量和性能的最终测试设备。它结合了高度的准确性和速度以及灵活的智能诊断功能。该系统允许对各种模块进行测试，并专门设计用于采用集成故障隔离技术进行细间距探测。该单元利用先进的测试技术工具，如结构测试、逻辑分析器（LA）和内置自测试（BIST）。结构测试由高速数字测试组成，使用算法在模块级别检查信号完整性，并允许对故障进行高速检测和诊断。逻辑分析器用于检查逻辑信号,以检测和诊断各种总线（如串行总线（如PCI、SPI等）中的故障。BIST测试用于检测和诊断IC中的内部故障,用于检测缓慢和间歇性故障。ADVANTEST T5371有一个集成的故障隔离机器，可以识别出一个或多个故障电路或组件，其精度和速度都很高。此特性在复杂的多电路设计中特别高效。此外,该工具的Smart Diagnostics资产可帮助用户快速隔离故障的根本原因,以便采取纠正措施。此外,该模型还可以执行一系列测试程序,如高速数字测试、测量性能水平的速度测试和超细螺距探测。此外，该设备还能够进行各种电源测试和交流/直流电气测试。该系统的智能报告单元确保测试结果的整体质量和准确性。该机器支持多种语言,设计为易于使用,并具有用户友好的界面,以确保在短时间内进行高效测试。此外,该工具是可自定义的,可以根据客户的需要定期升级,并配备最新功能。总体而言,T 5371是一种高效、准确的最终测试资产,旨在执行具有集成故障隔离功能的超细螺距探测,并支持电源、交流/直流电气和全型号测试等各种测试。它还提供了自动化的智能诊断设备,并且易于使用,并具有用户友好的界面。