TERADYNE Catalyst是一种综合性的最终测试设备,旨在简化复杂集成电路（ICs）的测试和故障排除过程。该系统能够进行高速数据分析,利用多站点测试系统和自动化流程快速识别有问题的缺陷或部分。Catalyst具有灵活的设备封装支持,能够有效地表征数字模拟溷合信号（DAM） IC。TERADYNE Catalyst单元具有高性能连接功能,可在设备、测试夹具和设备级别收集数据。这样可以提高检测精度,同时允许实时进行DFT规则集检查和自动通过/失败决策。再者，机器可以提供关于单位级或整个设备群的详细数据分析。该工具旨在消除生产后维修和处理有缺陷的集成电路所花费的时间和金钱。它与一系列测试方法选项集成在一起,如开机、非接触式和溷合信号测试。这些选项通过隔离和修复大大降低了未经测试的IC的频率。用户友好的GUI可轻松浏览各种可编程功能和高级测试技术。用户也可以尝试任何测试条件,然后再将其提交给生产运行。有一个针对故障的功能,可以直接对故障站点进行故障排除,并能够在不丢弃测试资产的情况下恢复故障部件。此外,还可以远程同时执行Catalyst测试,从而使许多设备能够在世界各地的多个地点同时进行测试。这减少了对测试站点物理存在的需求,并使管理测试数据变得更加容易。该模型具有增强的编程和交互式脚本,允许用户为需要速度、准确性和鲁棒性的应用程序创建自己的测试模式。此外,还存在一系列可使用脚本的ATE系统,这些系统能够轻松集成和可移植性。TERADYNE Catalyst还具有数据过滤和绑定功能,有助于确定设备是"适合用途"还是需要重新加工。总而言之,Catalyst是一个令人印象深刻的最终测试解决方桉,能够确保高质量的产品周期。TERADYNE Catalyst通过利用改进的连接和编程,再加上自动化的过程和决策,能够实现识别、检查和测试的整个过程的自动化,从而确保一流的产品质量。