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SEIKO S 130 半导体测试机

库存状态:现货

SEIKO S 130是一种综合性的"最终测试"设备,旨在提供自动化的测试解决方桉,以便在交付前有效地确保产品质量。该系统设计用于各种环境,并提供了广泛的高级测试功能。S 130由7英寸触摸屏Proving Interface供电,用于管理测试场景、分析结果以及计算通过/失败标准。该单元采用灵活的测试方法,允许用户自定义测试以最好地匹配每种产品的规格。这包括数字/模拟脉冲测量、4极线密度测试和电压/电流/电阻测试分析。此外,内置条形码阅读器可以快速准确地读取特定的产品数据,从而更容易识别产品的变化和异常。SEIKO S 130使用直观的图形用户界面来简化测试过程。这包括用于设置参数的可视反馈,以及用于直观演示通过/失败条件的交互式图表。此外,该机还配备了32-Channel数字静电计,用于分析和存储详细的测试数据,以便进一步分析。此数据存储在内部,便于召回和检查。S 130还设计用于增强安全性,具有抗冲击硬层和封闭式外壳,以防止外部损坏。此外,X&Y轴在操作过程中支持设备,因此无需手动稳定。该工具完全符合CE标准,这意味着它的设计考虑到了安全性和性能方面的考虑。这一全面的最终测试资产提供了广泛的优势,包括成本效益、苛刻的环境兼容性和用户友好的操作。是产品质量控制的理想解决方桉,适合多种行业。

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根据机器实际情况提供服务
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