NEXTEST/TERADYNE Maverick PT-II是一款高性能的最终测试设备，旨在满足集成电路制造商的需求，这些制造商需要同时对多个过程进行自动化测试和测量。NEXTEST Maverick PT-II是一种多合一测试系统，可用于最终测试、刻录测试、YieldStar、可视化、封装测试、故障隔离、软件验证、归零测试（RTZ）和热表征。TERADYNE MAVERICK PT II的高吞吐量、灵活性、可扩展性和可扩展性使其非常适合任何PCB开发、高质量数字和模拟电子产品开发以及电路验证的测试和测量需求。Maverick PT-II利用了一系列广泛的技术,包括基于PC的TestStation软件、TestStation控制台、Device Master、多级计时板、RTZ板、Multi-Test Board和动态测量单元。这些功能提供了功能内操作,可在单个网络上同时测试多达32个设备。MAVERICK PT II包含一个基于芯片上的单元（SoC）测试机器和一个高速串行总线,允许同时进行多设备测试,每秒最多有10,000个刺激响应对。它的高级功能测试应用程序能够支持内存、逻辑、内存映射和可编程逻辑设备,并且能够与电路测试板、Prober工作站或自动处理程序紧密配合。TERADYNE Maverick PT-II的高级编程和调试功能可轻松快速地测试和隔离受控环境中的设计故障。NEXTEST/TERADYNE MAVERICK PT II还提供了一整套诊断工具，包括探针卡、可视化器和统计工具。NEXTEST MAVERICK PT II的探针卡管理器（PCM）旨在密切监视探针卡的操作和性能,以准确诊断有缺陷的设备。NEXTEST/TERADYNE Maverick PT-II还提供实时数据分析和可视化,使工程师能够快速验证设计参数、识别复杂数据的模式和趋势,并监控测试工具功能。此数据分析和可视化可帮助工程师快速隔离缺陷并验证设计。测试数据存储在NEXTEST Maverick PT-II的硬盘驱动器（HDD）上,以便进行后续验证、实施和数据存储。TERADYNE MAVERICK PT II还提供了一个可选的日志分析应用程序,用于分析测试数据和生成综合报告。Maverick PT-II提供了一整套软件和硬件工具,可解决生产和质量保证的所有阶段。其强大的数据采集和分析能力,加上智能自动化,使其成为高级产品测试和质量保证必不可少的工具。