NEXTEST/TERADYNE Maverick II PT是一款完全可扩展、高性能的最终测试设备,适用于从翻转芯片到裸模的各种半导体封装。该系统旨在最大限度地提高测试覆盖率和吞吐量,从而实现高级集成电路的大批量生产。NEXTEST MAVERICK II-PT具有自动化的拾取处理、高级测试功能和高密度的可编程电子负载板,以提高测试的并行性。它还提供多连接器选项和高密度探测解决方桉。TERADYNE MAVERICK II PT具有直观的用户界面和实时的可视图形显示功能,允许用户在测试过程中直观监控所有操作。该单元还包括功能强大的软件工具，用于创建利用各种不同技术的测试。这些工具可以快速轻松地开发复杂的测试、数据捕获和分析。机器还提供了高度的灵活性，允许用户根据自己的特定需求快速、轻松地定制测试。该工具还配备了先进的测试头控制，实现了准确、可重复的反馈测试和详细的故障分析。这包括内置测试传感器和故障诊断功能,以及诊断测试序列库和用户定义的测试流程,以优化测试覆盖范围并减少诊断和故障隔离所需的时间。此外,NEXTEST Maverick II PT还提供了一个完全可配置的测试程序,其中包含多个可编程参数,使客户能够根据自己的特定要求轻松定制测试程序。该资产还具有增强的串行数据通信能力，可与其他测试设备和外部系统连接。这包括对最常用的JTAG和IEEE-1149.x测试通道和串行协议的支持，以及对通用异步接收器和发射器（UART）和同步通信的支持。此外,该模型还能够连接到各种基于ATP（先进测试协议）的测试解决方桉,包括高级GigaTest技术,以确保精确的时间验证和诊断。TERADYNE MAVERICK II-PT旨在提供当今复杂、大批量生产需求所需的最先进的工具、技术和工艺。其高度可配置的平台、强大的软件和先进的接口功能使其成为半导体生产测试的绝佳选择。该设备提供高速性能和高精度测试功能,使用户能够最大限度地提高吞吐量并降低成本。