ADVITEST T 6573是一种高性能测试设备，为集成电路（IC）器件的可靠测试而设计。该系统采用模块化结构,使用户能够为所需的测试机配置自定义设备设置,以最好地满足IC测试要求。该工具由一个控制单元和一个扩展单元组成，最多可容纳12个独立的测试站点。此资产具有足够的灵活性,可以对具有不同规格的IC进行专业测试。该模型是完全可编程的，允许用户为特定的IC创建自己的程序。这包括针脚分配、数字/模拟信号、内存图像和结果分析的编程。该设备还允许用户设置特定于传输函数测量（TFM）的测量算法并并行编程多达10个TFM板。T 6573具有最先进的精确度和灵敏度,允许在高达500MHz的频率下运行,故障检测灵敏度高达5%的占空比。该系统还具有多通道同步功能,可跨多通道设置严格的延迟级别。ADVANTEST T 6573的开发重点是鲁棒可靠性。它具有卓越的整体可靠性,具有许多旨在优化性能的功能,如连续电源循环检测和有源电源故障监控。此外，该单元内置自检和外部监控，以确保机器健康。T 6573的用户界面设计为直观易用,集成了软件和硬件用户控制的设计。硬件前面板界面提供了充足的导航和快速操作控制。软件用户界面是管理测试工具的理想枢纽，并设有一个自定义工具来设置测试资产的不同工作模式。总体而言,ADVANTEST T 6573是一个理想的最终测试模型,旨在最大限度地提高测试各种规格的IC的准确性和生产率。其可靠的可靠性确保了对集成电路进行长期测试的卓越性能；其可自定义的设计提供了灵活性和节约；并且其用户界面易于使用以实现最佳操作。