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THERMONICS T 2500HFE 半导体测试机

库存状态:现货

THERMONICS T 2500HFE Final Test Equipment是一种自动化的大功率半导体测试解决方桉。它设计用于对电源设备(如MOSFET和IGBT)和离散组件(如MOSFETS、IGBT和BJT)进行最终测试。该系统能够同时测试多个大功率接头,从而实现快速、准确、可靠的测试结果。该单元提供对电流、温度和时序的精确控制,使其能够精确控制苛刻测试条件所需的大功率接头。它具有专用的、强大的电容电压(CC)源,为脉冲波形测试和脉冲形状捕获提供了高速精确控制的瞬态和稳态测试。此外,该机还包括一系列用于检测结保护和过温信号的电流传感和温度传感模块,以及用于在测试过程中精确控制结电压的快速电压控制电压源(VCVS)。T 2500HFE配有手动和可编程的用户界面,可方便操作和可编程的测试序列。它还具有实时数据分析和显示工具,可快速目视检查测试结果以及详细报告。该资产由一个复杂的软件包提供支持,该软件包提供一系列功能,包括测试方法优化、自动生成报告和实时参数监控。THERMONICS T 2500HFE最终测试模型是大功率半导体器件和部件的最终测试、分析和报告的理想选择。其快速、准确和可靠的测试结果使其成为评估各种设备性能和可靠性的绝佳选择。

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