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THERMONICS T 2402SX7-85 半导体测试机

库存状态:现货

THERMONICS T 2402SX7-85是一种高性能的最终测试设备,非常适合在质量控制和质量保证应用中进行复杂的产品测试。该系统的设计重点是可靠性、并行性和准确的缺陷检测。其2U外形规格配备了功能强大的64位处理器和高达4 GB的RAM,可加快测试时间。该平台由板载光学扫描仪和多达四个高速PCI卡组成,可提供全面的测试服务。该扫描仪提供卓越的成像功能,可识别到0.2 μ m大小的缺陷。直观的图形用户界面帮助操作员与测试单元交互,使硬件设置(如曝光时间、波长和增益)能够快速配置。除此之外,触摸屏液晶显示器还可帮助用户实时监控测试结果。在测试功能方面,T 2402SX7-85为以太网和数字信号直接输入提供支持。其高速接口被设计为支持1 Gbps的千兆位以太网数据传输速率。测试机还可以接受各种来源的输入信号,包括数字信号直接输入。此功能对于需要处理来自不同来源的多个输入信号的用户特别有用。THERMONICS T 2402SX7-85也为综合缺陷分析提供了大量的测试模式。可用的功能包括缺陷映射模式,它允许用户识别和消除淹没的缺陷;频率扫描模式,准确评估交流和直流信号;以及用于测试复杂信号的基于时间的用户定义测试模式。最后,T 2402SX7-85提供了一个远程监控工具,允许用户监控各种操作参数,如测试资产温度、湿度和电源状态。该模型还提供全面的日志记录和报告功能,允许用户快速分析测试结果和识别任何潜在问题。所有这些功能使THERMONICS T 2402SX7-85工程、质量保证和生产环境的理想选择。

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