ADVANTEST T 5375是为复杂、高针数半导体器件的高速、高精度测试而设计的最终测试设备。该系统旨在通过结合先进技术提高产量和降低成本，使其能够实现高容量高速测试。该设备的核心是Smart-SASS测试仪,它提供了在各种温度和电压范围内的高分辨率测试功能。它还拥有一个快速扩展的探测解决方桉库，其优越的机械稳定性和准确性被选中。该机器由功能强大、直观、易于使用的基于Windows的软件套件控制，为设备测试程序的开发、调试和存储提供了中心点。它还提供了一个界面，用于控制Smart-SASS测试仪和工具的其他组件的操作。ADVANTEST T5375支持复杂的DFT标记方桉和易于重新配置的测试结构,使其非常适合使用高引脚计数设备。此外,该资产还支持高速探测和校准,以便在大批量生产环境中快速识别和校正有缺陷的设备。该模型利用了一些增强其测试能力的附加技术。这包括一个高速时钟发生器，确保设备空白可以在非常高的速度进行测试，用于大批量制造；一个屏幕参考网格，用于晶圆级参数测试；Wafer探针，通过精确定位测试的器件空白来提高测试精度。此外,该设备还内置了温度模拟集,可以模拟各种温度条件,从而更准确地表示现实世界中的性能。总体而言,T 5375是一种功能强大、经济高效的测试解决方桉,可提供高容量、高精度的半导体器件测试。通过将先进技术与一系列测试支持功能相结合,该系统旨在帮助降低成本和提高产量,同时仍能达到最高的准确性和可靠性标准。