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TERADYNE UltraFlex HD 半导体测试机

库存状态:现货

TERADYNE UltraFlex HD是一款最终测试设备,旨在在自动化测试环境中优化性能、降低成本并提高可靠性。凭借其先进的Flash DTS(动态测试选择)功能,它有助于通过减少针脚和测试通道来确保测试覆盖范围。TERADYNE ULTRAFLEX-HD使用提供高吞吐量和灵活性的高性能通用执行平台(UEP)。该系统每天最多支持两百万次测试,最多可容纳336个测试站点。此单元提供高级测试分析和报告功能,以最大程度地减少停机时间。ULTRA FLEX HD具有多种功能,使其能够提供更高的准确性和可靠性。这些功能包括高分辨率采样率-每个站点最多8 GS/s、低延迟、每个站点最多600 Mb/s的闪存数据捕获、广泛的动态范围以及可靠且具有故障弹性的设计。ULTRAFLEX-HD还配备了软件套件,其中包括针对各种协议和应用程序的综合测试开发工具。此软件还支持故障检测、冗余控制和模拟等功能。该机器还提供自动测试验证过程,并为用户的需求提供可定制的测试策略。该工具在Windows、Linux和VxWorks等多种操作系统上运行。此外,它还支持多个测试接口,如In-Circuit、Boundary Scan、Functional、JTAG和基于IP的测试接口。可以使用各种诊断工具和选项进一步增强TERADYNE ULTRA FLEX HD的功能。其中包括自动测试模式生成(ATPG)工具、电磁干扰(EMI)缓解工具、资产数据回归测试(SDRT)和可靠性分析。这些工具可与UltraFlex HD结合使用,以确保所测试设备的最高可靠性。TERADYNE UltraFlex HD凭借其突破性的功能和尖端的功能,为用户提供了高性能和可靠的最终测试模型。此设备允许用户降低与生产测试系统相关的成本和停机时间,同时确保最终产品的最大可靠性。

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根据机器实际情况提供服务
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