NEXTEST/TERADYNE Maverick GT-II是大批量电子制造的领先最终测试解决方桉。它结合了最新的先进技术,如线性扫描技术、电气互连测试（ET）和高级调谐技术（ATT）,以提供功能和可靠性故障模式的测试覆盖范围。NEXTEST Maverick GT-II旨在使用快速、可靠和经济高效的测试解决方桉来处理各种测试应用程序。TERADYNE MAVERICK GT II能够测试各种复杂的板，包括多层和多层检查设计。它的模块化平台允许用户自定义自己的配置，以满足他们的确切需求。它采用无摩擦多点驱动器系统构建,支持包括IEEE 1394、USB和以太网在内的多种接口。MAVERICK GT II专为可扩展性而设计，允许它通过增加额外的测试单元从一个扩展到多达256个测试通道。它还为各种技术提供了广泛的测试套接字，如BGA、的BGA、CSP、QFN等等。灵活的硬件体系结构允许标准和非标准设备封装和尺寸,并可容纳多种连接器类型。TERADYNE Maverick GT-II还具有领先的电气测试软件,可帮助用户快速确定适当的规格、测试方法和解释测试结果。软件直观,允许用户快速配置和编辑测试。它允许完整的测试数据智能；用户可以收集、绘制图形和分析测试结果,从而实现更好的过程控制。NEXTEST MAVERICK GT II具有高吞吐量的高可靠性测试覆盖范围,非常适合大批量生产环境。它重量轻,占用最小的地板空间,而且易于维护。它还具有自动校准和校准验证功能,以及快速生产坡道的快速启动时间。总体而言,Maverick GT-II是一个可靠、灵活且尖端的最终测试解决方桉,提供卓越的可扩展性、测试范围和过程控制。它直观的软件和易于维护，使它适合任何电子制造商寻找一个强大的最终测试系统。