NEXTEST/TERADYNE Maverick I ST是一种强健、高性能的最终测试设备，专为半导体行业的晶圆和器件测试而设计。该系统能够在各种操作条件下快速有效地测试各种应用程序中的多个单独组件。该装置配备了高速C-mount光学机器，可以更快、更精确地成像。光学工具包括用于全系列芯片或封装测试的亮场（BF）和暗场（DF）配置。此外,资产的高级光学封装还能够使用图像增强技术（如对比度调整）,以提高测试精度。NEXTEST Maverick I ST包括功能强大的软件,包括TEST Automation Suite,它提供了用户友好的可编程性,能够快速设置和集成测试,从而确保测试的最佳性能。此外,该模型的自动故障定位算法和图像分析功能使快速准确地诊断被测设备（DUT）中的缺陷成为可能。数据连接和存储也得到了增强,支持多个接口,包括USB、以太网和直接数字输入（DDI）。该设备还支持最新的移动平台（MP）技术，采用高速x-y-z级封装，测试速度更快，吞吐量提高。TERADYNE Maverick I ST还提供全面的诊断,包括内置同轴校准和一套内置测试,这些测试运行特定的过程步骤来识别性能问题。此外,系统还提供可选的热管理功能,以确保在不同操作条件下的最佳性能。Maverick I ST高度可靠，MTBF额定值超过一百万小时，能够承受冲击、振动和极端温度变化。它还专为轻松维护而设计,可以轻松升级到最新的硬件/软件更新。NEXTEST/TERADYNE Maverick I ST是各种最终测试应用程序的理想选择,它为集成电路、芯片和封装的持续准确测试提供了强大的高性能单元。