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TERADYNE J973 半导体测试机

库存状态:现货

TERADYNE J973是为各种产品测试和调试要求而设计的最先进的最终测试设备。它提供了多种独特的功能,如多种独特的测试容量、集成处理程序和高速信号生成,所有这些功能都是一个易于使用的软件包。该系统能够容纳多达48个用户定义的测试电容器,这些电容器被设计用来快速准确地测量片上单元(SoC)系统、集成电路、微处理器和其他组件等一系列设备中的特定电气参数。用户定义的测试参数允许在有限空间内对任意数量的设备快速准确地执行测试;非常适合大批量生产应用。该计算机还包括一个内部调试终端,该终端能够执行快速的串联设备调试,并支持用于调试访问的行业标准测试访问端口(TAP)。TERADYNE J-973中的集成处理程序模块设计用于连续自动送入和测试设备,从而缩短了总体测试时间。集成处理程序模块还设计用于各种行业标准处理程序臂以及测试所需的任何专门组件处理程序。处理程序模块还允许与测试设备和其他自动化系统轻松集成,使整个测试过程自动化。此外,J 973还融合了高速信号生成等先进的测量技术,能够在整个操作范围内模拟和捕获实时信号。利用高速信号生成,用户无需标准测试矢量即可确定通过测试和失败测试的幅度。这样可以加快测试过程,并允许工具以近乎实时的方式识别和调试数百台设备。总的来说,J973提供了一种易于使用的测试资产,该资产具有高度可定制性,允许在有限的空间内测试几乎所有设备,以及高级功能(如自动处理程序操作和高速信号生成)。该模型适用于生产测试操作和故障调试操作。

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