AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/VERIGY/ADVANTEST 93000 C400e是半导体器件的最终测试设备。它是一个高级平台，具有系统级测试和调试具有挑战性的设备的高级功能。该C400e建立在经过验证的UFSTSM Golden Unit平台上,用于测试复杂的VLSIC和多模具系统。该C400e的模块化测试解决方桉提供了灵活的可配置性,并具有在机器级测试中性能最好的整体单元解决方桉。模块化工具体系结构可实现从高引脚计数彷真到全芯片测试的可扩展性。它支持各种测试仪体系结构，即核心模块引脚、快速引脚映射和单元格映射流。它与主机PC设备以及ATE集成,在同一平台上提供完整的资产测试解决方桉。C400e的集成HIL测试模型结合测试和调试来识别或增强设备性能。此外,该系统旨在准确高效地改进测试,从而节省工程师的时间和精力。C400e高效模式技术以生产级吞吐量加快了测试和提高机器可用性的时间。该C400e为多芯片、多芯片或封装单元（SiP）设计提供了高度自适应的测试解决方桉。它也是业界第一台在同一台测试机中为集成磁性物提供精确测试的测试机器。该C400e为多通道内存测试和完整的协议测试提供了最快的周期时间,从而提高了HP在提高测试覆盖范围方面的领先地位。该工具还针对DDR、DDR2、SATA和USB等各种协议的高比特率和复杂测试要求进行了优化。该C400e将高性能测试结果与提高的生产率和灵活性相结合,以控制测试环境。它具有强大的硬件和软件设计,可提供零缺陷性能和按需响应能力。可以将资产配置为提供多种产品线,使其能够在满足成本限制的同时支持复杂的工程环境。该C400e非常适合快速验证产品设计,能够处理当今领先产品的较大功能尺寸。集成的软件组件有助于无缝访问各种调试工具。该模型执行诊断跟踪分析和数据模式压缩，并允许工程师执行程序调试和串扰分析，以快速隔离和分析任何设备故障。C400e是高端、可靠且经济实惠的测试系统,可为客户的测试需求提供可靠可靠的解决方桉。使用标准台式设备安装方便,安装时间最少。该C400e消除了投资于第三方供应商提供的昂贵解决方桉的需求,同时提供了质量最高的测试单元。