NEXTEST/TERADYNE Maverick GT-II是一种最终测试设备,旨在通过为电子元件和组件的测试和表征提供快速、可靠和准确的解决方桉,最大限度地提高操作效率和有效性。NEXTEST Maverick GT-II是基于开放体系结构构建的高度集成的最终测试系统,允许用户自定义其测试配置并提高总体测试吞吐量。该单元包括各种板和夹具，以适应一系列的接口和提供灵活的配置。这台测试机使用户能够执行高度可配置和高效的测试以及同时分析多个设备。TERADYNE MAVERICK GT II包括几个基本组件,包括一个自动排序站、一个测试室和一个集成到每个用户配置中的Porter接口。自动排序工作站提供了一个快速、安全的出站设备排序过程。NEXTEST MAVERICK GT II内部的试验室具有环境控制和可调节的气氛，可确保准确和一致的测试结果。波特界面用于在测试工具和用户之间提供高度的互连性。此连接允许一整套选项,包括远程操作、诊断以及数据记录和分析。NEXTEST/TERADYNE MAVERICK GT II利用一系列测试技术来取得可靠的结果。这包括At Speed Test （AST）、Low Level Code （LLC）和Supply Current Measurement （SCM）功能。AST是使用高速串行外围设备控制器实现的，该控制器从测试仪的慢时钟速度扩展设备定时。LLC为各种复杂程度不同的UUT提供可定制的测试过程。SCM通过UUT测量电压和电流,在此过程中提供有价值的诊断信息。此外，Maverick GT-II具有先进的视觉和音频接口。使用标准广角视图模式，用户可以观察到环境的完整视图，并从测试人员那里收到测试状态的反馈。音频接口添加了另一层信息,以进行更好的故障排除和调试。可以配置各种警报和状态指示灯,以提醒用户注意特定情况。总体而言,TERADYNE Maverick GT-II是功能强大且用途广泛的最终测试资产,旨在降低成本并提高吞吐量。MAVERICK GT II利用全面的测试技术、先进的视觉和音频接口以及一系列集成板和夹具,为测试和表征各种组装组件提供了优化的解决方桉。此外,它的开放式体系结构允许用户扩展其自定义配置并最大限度地提高测试吞吐量。