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TERADYNE J750 EX 半导体测试机

库存状态:现货

TERADYNE J750 EX是一种高度可靠且功能强大的最终测试设备,旨在快速识别和分类电气和功能设备缺陷。它具有高速测试仪,通过为大范围的设备提供灵活的测试类型,快速方便地处理各种测试要求。TERADYNE J750EX配备了一系列高级测试系统,包括Advanced Test Handler II、Analog Test Handler、Digital Test Handler和新的High-Current Test Handler。它还能够用低压和高压组件的溷合物测试高密度、高溷合的应用。J 750 EX设计用于各种设备和组件的最终测试。它提供了很高的准确性和速度,并且能够快速和准确的故障安全测试。该系统提供各种测试类型,如ICT、结构测试、射频测试、BIST和电路内测试,以识别电子设备中发现的任何和所有缺陷。TERADYNE J 750 EX还能够执行点对点测试、矢量测试、模式识别和高速串行测试。该单元由Easy Program Package (EPP)软件控制。此软件经过专门设计,便于进行轻松的设置和高效的测试,并提供集成的数据管理。使用EPP软件,用户可以设置各种测试参数,并将其存储以备将来使用。J750EX机器也被设计成可以处理大量的设备。在高温、湿度等多种恶劣条件下,每小时最多可测试12万台设备。其创新的设计和内部诊断保证了用户高水平的性能和可靠性。该工具配备了多种安全功能,如过压保护和紧急停止能力,有助于最大限度地减少对资产、正在测试的设备和操作员造成损害的潜在风险。此外,J750 EX可以检测地面故障情况,并最大限度地减少静电,以防止对设备和测试模型的任何潜在损害。总体而言,TERADYNE J750 EX是一种功能强大、可靠且易于编程的最终测试设备,可以准确诊断和分类各种电气和功能设备缺陷。它结合了速度、精度和安全性,是任何需要最终测试的应用程序的理想选择。

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