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TERADYNE APU-10 半导体测试机

库存状态:现货

TERADYNE/EAGLE APU-10是一种高速、高精度的最终测试设备,专为具有溷合信号和高速数字设备测试要求的应用而设计。该系统能够测试各种数字设备,包括微控制器、DSP、FPGA和SoC。EAGLE APU-10能够实现高速测试吞吐量,对于高引脚计数设备,每小时以高达400 MHz的速率和高达1 000万个跃迁(MT)的速度执行。该单元也可编程,允许快速更改和更新测试要求。该机器用于处理各种信号和设备,能够容纳多种封装类型,如QFP、BGA和SOIC。TERADYNE APU-10包括一个集成的行业标准测试算法库,支持带有板载示波器的实时调试,并具有强大的分析和报告功能。此外,该工具还包括负载板控制,以帮助消除手动操作错误并增加吞吐量时间。APU-10提供全面的测试覆盖范围,提供内置资源以帮助确保测试结果的准确性。该资产还为易于使用而设计,它提供了一个图形用户界面,可快速访问模型的所有功能。设备可以定制,并与一系列第三方软件包集成,让客户根据自己的具体需求定制自己的测试要求。该系统的设计具有强大的制造可测性,以确保设备在各种工业环境中的安全运行得到优化。该机包括自测能力和集成测试程序验证等安全功能,以帮助防止对人员和环境的意外伤害。总体而言,TERADYNE/EAGLE APU-10提供高测试性能和广泛的功能,以满足一系列应用程序的需求。该工具旨在实现最大程度的易用性,适用于具有高速数字设备测试要求的应用程序。

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