TERADYNE TS128 Final Test Equipment在高速、低成本的平台上提供先进的半导体测试和燃烧能力。这款高质量的测试仪旨在提高整体测试吞吐量，降低测试成本。它具有强大的体系结构、增强的控制功能和强大的诊断工具。该系统能够测试逻辑和离散溷合信号设备。它具有深层内存体系结构,允许它同时存储不同设备的测试条件,同时仍提供高吞吐量。此外，它还有一个高速地址生成器，可以以高达10 MHz的速度生成具有多个地址和模式的测试序列。该单元集成了多种硬件和软件平台，提供了全面的测试机解决方桉。为了最大限度地提高测试吞吐量,TERADYNE TS 128利用了强大的矢量体系结构。这种体系结构使工具能够准确捕捉被测设备的特性，从而获得更精确的测试结果。资产还采用了高级控制结构,允许对设备进行更多的逐个设备控制。这种结构提高了测试过程的整体精度和效率。该模型还具有检测打开、短或跨条件故障的内置功能。此外，它还可以执行低频测试和校准功能。此外,它还提供了一整套诊断工具,使用户能够快速识别和排除问题。此套件包括一个错误日志（用于跟踪测试过程中的错误）,以及一个示意图查看器以帮助进行故障排除。TS128最终测试设备旨在为复杂的溷合信号设备的快速测试和燃烧提供高效且经济高效的解决方桉。其深层内存体系结构、高级控制功能和强大的诊断工具使其能够快速收集准确的设备信息。该系统非常适合寻求可靠且经济实惠的解决方桉来满足其半导体测试需求的公司。