TERADYNE Z1803-2是一种最终测试设备,旨在为高级电子包装组件中的组件提供质量保证。该系统结合了多种设备类型的高级测试技术,包括ASIC、SoC、ASSP和DSP。该设备具有多个可配置的测试通道,可以以高达数据速率8GHz的速度同时接受多达8种设备类型。机器的扩展数据库库支持测试具有独特测试要求的设备。其柔性信号注入能力可用于动态故障机制的测试。该工具还具有用于温度测量的高精度和可重复的热电偶界面。此接口用于评估封装级别的热性能。资产可以执行连续波（Continuous Wave，CW）表征，让工程师能够准确快速地测量装置特性。此功能通过在单个测量中提供详细信息来缩短测试时间。该模型包括广泛的生产测试软件，如基于软件的故障诊断、统计过程控制（SPC）、自动测试程序生成以及诊断故障分析。它还提供高级编程功能,包括使用多种语言对测试序列和设备进行编程的选项。该软件可实现全面的设备自动化,提高测试质量并降低成本。Z1803-2包括一个扩展的测量库,支持一系列最新的设备测试应用程序。这些应用程序在系统上预先加载,包括：开路测量、电气特性测量、固定功能测量和参数测量。该单元允许您设置和存储自定义测试,从而为您的QA过程带来最大的效用和灵活性。该机器是为在工业环境中可靠运行而建造的，结构坚固，内置ESD保护。它采用高密度板材布局设计,以紧凑的外形尺寸最大限度地提高效率。该工具还配备了信息丰富的液晶显示屏，用于直观和简单的导航。总体而言,TERADYNE Z1803-2是一项高级最终测试资产,它为在一系列工业环境中进行高精度测试提供了最佳的灵活性。该模型具有广泛的测量库、可配置的通道和自动化的编程功能,为高级封装设备的可靠质量保证提供了便利。