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TERADYNE IP 750 EP 半导体测试机

库存状态:现货

TERADYNE IP 750 EP设备是一种全面、可扩展的高速数字测试和验证应用解决方桉。它通过为下一代半导体器件提供高性能测试解决方桉,帮助降低成本并提高工艺产量。TERADYNE IP750EP系统是硬件和软件的组合,具有一个称为IP-Link的数据采集平台,以及一个集成FPGA逻辑的高速控制器,用于增强测试加速。主要硬件组件包括嵌入式PC、IP-Link控制器、FPGA电源和模拟I/O调节。该单元还配备了多种测试测量设备,其中包括信号发生器、示波器和频谱分析仪。IP-Link是一种高速通信协议,它使IP 750EP机器能够读取和记录来自数字设备的数据,同时支持P-AURA和多站点测试应用程序。IP-Link控制器提供从10kb/s到10Gb/s的广泛通信速度,并且与标准协议(如CANbus、以太网和S-ATA)兼容。FPGA逻辑通过卸载过程密集型操作(如表征和分析)来帮助减少测试设置和执行时间。可用于创建数据记录例程,允许TERADYNE IP 750E P工具基于对不同仪器获取数据的分析创建测试结果。这在多站点测试应用程序中特别有用,因为它有助于加快数据分析并促进调试。模拟I/O调节模块由探针、电流源和数据采集板组成,使资产能够从模拟信号读取数据。该模型还包括一个复杂的后处理软件包,它允许开发者执行强大的统计分析(包括回归和ANOVA分析),允许他们根据描述性统计和其他方法评估设备性能。IP 750E P设备的硬件和软件相结合,使其成为测试和验证应用的可靠的最终测试系统。高速通信协议、强大的FPGA逻辑、数据记录功能,使其成为低成本、高速、有效的测试解决方桉的绝佳选择。

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