TERADYNE J750是一个全自动、高性能的最终测试平台,旨在满足对测试数据精度和准确性不断增长的需求。TERADYNE J 750采用探针访问、灵活、快速交换交换网络和高级仪器的组合，以确保精确准确的测试数据。J750提供范围广泛的、最多64个站点,支持至少128个探测器,具有传输线和无接触测试功能。该设备能够支持与自动测试系统（ATS）和单探测站（SPS）的直接接口。J 750还提供最多496个电源模块、12个用于灵活多路复用的数字输入/输出模块以及可配置的多分析器组合,如RF和音频,以及可编程逻辑控制器（PLC）。TERADYNE J750旨在提供适合大型生产运行的快速测试时间和高吞吐量。它针对返工和故障诊断以及快速故障分析进行了优化,其特点使其非常适合从高性能IC到晶圆级测试的各种应用。TERADYNE J 750具有高级编程功能,可启用用户可定义的测试元素,以及实时的测试校正,使客户能够快速诊断缺陷并优化测试时间。该系统还提供远程访问和控制、用于改善正常运行时间的冗余体系结构以及高级报告功能,以实现更好的数据管理。此外,J750还具有最大的灵活性和可扩展性。它提供了一系列选项,例如高速数字信号采集、可编程仪器、多个缩略图和用户定义的引脚分配。它还提供接口模块和粘合逻辑的接口，允许客户添加自己的测试程序。综上所述,J 750是需要在最终测试单元中提供高性能和准确性的客户的理想选择。它的模块化设计允许轻松扩展和最大的灵活性。它具有先进的编程功能、实时测试校正和冗余体系结构,使其成为测试各种组件和产品的高度可靠和高效的机器。