TERADYNE Catalyst是TERADYNE为半导体集成电路（IC）产品的高速最终测试而开发的一种最先进的生产测试设备。催化剂系统利用高密度板处理程序、多激光干涉仪探针系统、千兆欧姆阻抗测试、多个温度室以及可视化和自动检查的集成工具,提供灵活、模块化的体系结构,提供全面的测试覆盖范围。该设备能够快速识别和隔离有缺陷的零件,从而允许制造商减少生产延迟、降低测试成本并提高产品产量。TERADYNE Catalyst采用高速、模块化、级联、多加速度（MCA）晶圆级测试体系结构,可实现复杂IC芯片的节点测试覆盖和设备所有功能的生产测试覆盖。它结合了一个6 GHz的测试时钟，提供多站点高速测试仪覆盖范围和高密度内存，以确保机器能够快速响应任何测试请求。Catalyst工具还利用一组在线和离线测试人员来确保测试设备和数据收集的最大可用性,以及允许客户根据其特定需求定制测试资产的软件包选择。TERADYNE Catalyst的前端元件包括多自动处理器（MAH）板处理器、多激光干涉仪（MLI）模型以及多种自动测试设备（ATE）机架。MAH旨在快速测试各种组件和封装类型,它为处理标准和定制IC产品设计提供了高级灵活性。此外,MLI允许在测试测量之间进行精确协调,并有助于验证各种组件类型的测量。Catalyst的后端包含多种诊断解决方桉,可实现生产测试覆盖和故障隔离。它利用各种软件包来帮助管理和组织复杂的测试配置,以及用于芯片级诊断的集成分析工具平台。该平台还包括多温室、货架隔离测试仪和千兆欧姆阻抗测试仪，以确保功能强大的测试覆盖范围。此外,TERADYNE Catalyst还包括用于自动目视检查的数字图像处理工具,以确保IC产品的最高质量。总体而言,Catalyst是一个先进的生产测试平台,它为所有类型的IC产品提供全面的测试覆盖范围,使客户能够降低测试成本、最大限度地缩短产品上市时间并提高产品产量。