TERADYNE iFlex是为测试复杂的IC设备而设计的最终测试设备。该系统配备了高端硬件和软件元素，能够测试各类IC，包括DRAM、SRAM、Flash、EEPROM和ASIC。该单元是模块化的,具有各种测试站点,可以根据客户的具体要求进行配置。该机器能够运行多个应用程序,如参数化、功能性、电路内、刻录和设备表征。它也可用于其他应用如射频/微波、离散元件、逻辑/模拟和工具级测试。该资产由许多软件和硬件工具提供支持,这些工具可以定制以适合每个应用程序。它还包括一个广泛的测试配方库，用于指定可编程测试单元的测试要求。TERADYNE I-FLEX包含可编程自动化组件，如I/O模块、音序器和GPIB控制器。这些组件用于控制测试仪器、参数和数据采集。利用这些组件,可以实时收集测试数据,从而实现快速反馈和方便的故障排除。该模型包括一个易于使用的图形用户界面（GUI），用于设计、调试和模拟测试。它还具有自动设备驱动程序生成器,用于为各种设备创建自定义测试驱动程序。该设备还配备了Easy Set-Up工具,该工具可自动配置系统参数,使设备能够定义为开放式、灵活、经济高效且高生产率的测试机器。此工具支持DILab、JTAG和软件开发套件（SDK）等多种格式。IFlex包含一系列内置硬件级别的安全功能,可防止未经授权访问该工具。该资产还具有完整的LAN支持,因此多个用户可以同时访问它。该型号还可以轻松升级,以便在各种设备类型和应用程序上工作。I-FLEX是用于测试复杂IC的经济高效且高性能的解决方桉。其硬件和软件功能使其成为一个功能强大且易于使用的平台,可满足各种测试要求。该设备具有较高的吞吐量和较短的周期时间,以及快速的安装时间和易于定制以满足客户需求。