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TERADYNE J750 半导体测试机

库存状态:现货

TERADYNE J750最终测试设备是目前市场上最先进的测试系统之一。它的设计目的是提供比其前代产品更高的速度、准确性和可靠性,使其成为满足具有挑战性的测试需求的理想选择。TERADYNE J 750专为高频操作而设计,具有电子和软件工程方面的最新进展,提供高性能和可靠性。其主板以SHARC处理器为基础,配备了高速内存阵列、丰富的数据采集平台和嵌入式系统软件。该单元与流行的行业标准夹具、测试程序和板兼容,便于集成到现有的测试系统中。该机器还具有多种选项,使其能够根据客户的特定需求轻松定制。例如,它可与高级负载调光工具(ALDS)一起使用,该工具为高速测试提供精确控制。J750能够以无限数量的并行测试运行,并且可以用于高吞吐量测试。它灵活的自动化功能,从装载板到卸载,使其成为满足大批量生产测试需求的理想选择。J 750强大的电气测试功能包括针对各种高级测试需求的测试。从简单的快速切换到具有挑战性的高速刺激,TERADYNE J750可以轻松满足各种测试需求。它非常适合电源循环、动态功率测试、信号完整性和功能测试等应用。该资产提供了许多高级软件和硬件选项,旨在为客户提供最大程度的灵活性。软件支持选项包括易于管理和配置测试的项目配置。硬件选项包括可以添加分离功能的LFT和Loose Linear Expansion套件,或Loose Linear ANSI Protocol和TestPoint Support,使得TERADYNE J 750几乎与任何类型的接口兼容。总体而言,J750是市场上最先进的最终测试系统之一。它非常适合各种高功率高频应用程序,并且易于配置以满足客户的特定需求。这使其成为寻求可靠、准确测试模型的客户的理想选择。

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