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TERADYNE iFlex 半导体测试机

库存状态:现货

TERADYNE iFlex是一款高性能、经济实惠的"最终测试"设备,旨在为静态和动态测量提供全面的测试覆盖。TERADYNE I-FLEX具有可扩展的模块化体系结构,可跨多种产品类型提供卓越的吞吐量、灵活性和可重构性。该系统利用先进的基于矢量的测试技术来检查电气性能、参数响应以及支持组件的功能测试。此外,iFlex还配备了一些高级功能,如灵活的平台单轨铁路支持、高级并行测试、实时数据记录和监控功能。I-FLEX还拥有方便集成的测试单元解决方桉,可显着节省空间和成本。这些统包解决方桉包括使用高级模拟、调试以及利用在其他环境中开发的测试程序的能力。TERADYNE iFlex测试仪采用三槽大型机体系结构,可选择三个轨道长度。TERADYNE I-FLEX的插槽灵活性通过利用两个机架重组控制器模块的能力得到增强,大大降低了成本。为了获得最佳性能,该设备的设计目的是使机架和轨道尽可能靠近。iFlex的测试头有模块化和非模块化两种格式。模块化变体具有五个专用的测试头执行通道,而非模块化设备具有四个独立的测试头插件通道或两者的组合。所有四个插件通道都支持每个单元的I/O插槽,以便所有可用的测试头在测量过程中处于活动状态。I-FLEX还融合了最新一代的数字电子测试仪器(DETI)和数字脉冲刺激(DPI)技术。大多数DETI解决方桉允许快速、准确的设备测试,并提供根据流程需要定制测试的灵活性。新闻部的新技术提供了广泛的替代脉冲和功能刺激技术,以实现更快的测试和更高的信号保真度。TERADYNE iFlex机器还提供了一个高级软件包,其中包括各种用户友好的配置选项和直观的用户界面。此外,它还提供了多种诊断工具、大量的测试程序库以及直接的数据库访问,以确保与客户系统的成功集成。总之,TERADYNE I-FLEX提供了一个全面的"最终测试"工具,具有快速、经济高效且高度可靠的最终测试解决方桉。该资产集成了先进的技术和尖端的软件,以确保所有客户需求的最高质量测试结果。

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