TERADYNE IP 750E是一种用于集成电路的高效最终测试的高性能测试系统,称为IC。IP 750E专为一流的大批量生产测试量身定制,能够测试各种产品,包括SoC（片上系统）、消费和汽车IC、处理器和内存组件。TERADYNE IP 750E提供了一整套针脚级访问,大大降低了每次测试的成本。它能够测试大多数IC和所有类型的集成组件,包括但不限于离散组件。该配置允许用户涵盖从单针设备到高针计数的IC测试的全部范围。IP 750E旨在提供尽可能高的吞吐量。这是通过使用先进的结构测试算法来完成的，如循环、多模式执行、C-limit测试以及改进的内存注册功能。此外，它还为用户提供了测试优化和简化编程的适应性算法。TERADYNE IP 750E提供用户友好的图形编程工具,使测试理解和作业设置更加容易。它还有一个直观的用户界面，这样就可以快速识别和解决异常。此外，利用内置的统计分析，IP 750E甚至可以检测信号需求中最微妙的偏差，并能快速检测瞬态异常。TERADYNE IP 750E还通过其高级故障隔离功能提供了改进的诊断。它提供隔离节点跟踪、电压测试探测、总线分析和故障发射表征。这些功能增强了故障覆盖范围,同时减少了对迭代测试和其他人力资源的需求。总体而言,IP 750E是一个高度可靠的最终测试系统,旨在以更低的周期时间、更高的吞吐量和更高的准确性提供质量测试结果。它具有一个动态体系结构,可以在相同的设置下轻松从测试仪移动到测试仪,使其成为大批量生产测试的绝佳选择。