TERADYNE J750 Final Test Equipment是一个用途广泛且可靠的测试解决方桉平台,专为在大批量生产环境和研发实验室中进行设备测试而设计。系统使用业界认可的扫描测试接口，让工程师能够快速、准确地对被测设备（DUT）进行测试编程。此单元旨在为各种测试和调试任务提供经济性和高级性能。TERADYNE J 750提供多种测试硬件硬件配置和测试技术选项。这包括在基于FPGA的向量生成、确定性定时控制和具有专用ATE组件的模块化测试体系结构之间进行选择。它还提供空气晶片和接触处理程序选项,用于测试尺寸不超过300 mm的设备。此外,J750还拥有一个动态测试套件,即使在大批量生产中,工程师也可以快速轻松地重新编程测试模式。J 750还提供了对被测设备性能的有力评估。这包括能够以高达600 MHz的采样率测试波形，并应用强大的算法将波形解释到组件级别。TERADYNE J750还提供内置的高级射频测试功能,包括集成射频测量系统和矢量信号分析器、信号分析器和信号发生器。最后,TERADYNE J 750提供了广泛的连接和测试工具,例如用于功率测量的J750 PowerMeter、用于高速和低功率接口测试的MIPI探针以及用于调试的高可靠性、高性能探针和插座。这种灵活性允许快速轻松的安装,同时提供出色的产量。J 750 Final Test Machine是一款功能强大且用途广泛的解决方桉,用于测试和调试各种电子元件、模块和系统。其能力可以量身定制以满足特定需求，其可扩展性确保它能够适应各种规模的生产系统。此外,其直观的扫描界面、强大的评估工具和强大的支持使其成为在大批量生产环境和研发实验室中进行可靠设备测试的理想选择。