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TERADYNE iFlex 半导体测试机

库存状态:现货

TERADYNE iFlex是一个模块化的集成测试和检查解决方桉,用于大容量、中复杂性板装配和设备制造。它具有高度集成的体系结构,可提供性能、灵活性和可扩展性,以满足当今快速发展的供应链中的测试和检查需求。TERADYNE I-FLEX利用其屡获殊荣的TrueFlex技术,提供测试、成像和检查功能的集成内联自动化。这项技术使工程师能够根据其特定应用开发和定制测试和检查例程,从而提高产量并加快上市时间。该设备能够准确地执行繁琐的测试或检查任务,而不牺牲速度或准确性。该平台独特的TrueFlex技术允许快速设置和修改测试功能,使其能够适应各种测试方桉。该系统具有广泛的性能,能够验证先进微电子器件的测试结果,并结合高精度,非常适合最复杂的应用。IFlex的"现成"模块化设计减少了编程和操作员培训时间,使其能够快速调整以满足不断变化的测试要求。此外,它的性能分析和优化工具使工程师能够有效地评估和管理主板和设备的测试性能。该单元还采用了视觉引导测试技术,它提供了强大的处理和视觉能力,以支持广泛的应用。视觉引导测试使I-FLEX能够快速检测、检查和识别超细特性缺陷和定位错误。此外,TERADYNE iFlex还提供强大的数据管理功能,从在线存储和数据传输功能到测试后分析功能,以便与特定于客户的测试过程要求保持一致。此数据管理功能可帮助计算机快速确定根本原因并提供解决方桉,改善工作流程并加快上市速度。总体而言,TERADYNE I-FLEX是针对高容量、中复杂性应用程序的出色最终测试工具。凭借其强大的测试和自动化技术、集成的视觉功能以及全面的数据管理功能,它为当今快速发展的供应链中的测试和检查提供了理想的解决方桉。

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