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TEMPTRONIC TPO 3010B­-2100-1 半导体测试机

库存状态:现货

TEMPTRONIC TPO 3010B-2100-1是一种专用的独立闭环高温测试设备,用于对各种电子产品进行最终测试。这是一个先进的系统,利用一个专利的闭环热循环(CLTC)技术,以确保精确和可重复的测试结果,审计验证约束质量控制规范。从环境温度到极端140⁰C温度的温度波动可以考虑到长达两小时的热挑战,以验证产品在一系列环境条件下的完整性。TEMPTRONIC TPO 3010B-2100-1通过各种用户定义的程序设置得到增强,使其能够根据所有测试参数进行自定义。温度设置、运行时间、热循环类型、斜坡速率、浸泡时间、冷却速率和周期数只是用户可以设置的一些可编程参数,以确保适合正在测试的产品。直观的前面板允许用户轻松访问和更改设置,而无需浏览复杂的菜单。TEMPTRONIC TPO 3010B-2100-1采用先进的温度传感器和控制器组合设计,可精确采样并将测试温度调节到其设定点的±0.2⁰C以内。温度探测器(热电偶或RTD)提供额外的监测点,以确认设备内关键位置的温度读数,从而消除任何温度不确定性。此外,读数可以连接到外部数据采集系统或软件,以方便详细的数据记录、分析和报告。其他功能(如柔性冷却系统)允许用户选择多种冷却选项,从而延长机器的使用寿命和性能。TEMPTRONIC TPO具有多达四个冷却风扇,由用户控制的速度3010B-2100-1运行更安静、更有效。智能安全功能,如过温关闭,保持工具的完整性,以及低调的塔式外壳,使TEMPTRONIC TPO 3010B-2100-1可以放置在低调的测试环境中。TEMPTRONIC TPO 3010B-2100-1是一种高效、精确的测试资产,使产品设计师能够快速了解其产品在一系列环境条件下的性能特征。此外,该模型还提供了对操作环境的可重复、可验证和可追踪的审计跟踪,为产品的最终测试提供了一种简单、可靠和经济高效的方法。

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根据机器实际情况提供服务
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