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SYSTEM GENERAL AP600 半导体测试机

库存状态:现货

设备GENERAL AP600是一种高性能的最终测试系统,旨在满足电路卡组装和集成电路验证最苛刻的要求。高级单元具有全方位的测试选项,包括电气测试、开放/短检测和光学检查功能。AP600的主要特点包括高速彩色CCD相机,用于捕捉视频信息以供检查。相机有12微米像素大小,采用3.75英寸方形格式进行图像捕捉。该机还具有自动图像处理工具,具有检测和测量元件几何形状、铅共面和焊料联合检查的算法。此外,该资产还包括一个固定的机械模型,以确保对PCB板的精确探测。该设备能够测量从直流到60MHz的频率范围,输入范围为0.5至1.2伏。此外,系统还提供了一系列功能,包括故障诊断、性能表征和书面触发器测试。Unit GENERAL AP600还支持许多编程语言,包括Java、Prolog、C/C++、Basic和Lisp。机器至少有16 GB的内存和2GB的硬盘来存储数据。该工具的软件套件包括PicosFlex,一种用于构建和维护测试钻机的测试索具软件。它还包括FaultCatch(自动故障诊断工具),Test Designer(用于创建测试程序的基于图形用户界面的工具),以及Automated Test Suite Analyzer(用于分析测试结果数据的工具)。AP600配备了集成的DeviceNet技术,以促进与其他设备的通信。它还支持以太网、USB和CAN等现代通信协议。在安全性方面,该资产经过FCC和CE认证,并具有针对ESD和EMI的内置保护。总体而言,Model GENERAL AP600是一种高级设备,具有各种高级测试选项,包括电气、开放/短检测和光学检查功能,非常适合组装和集成电路验证。它功能强大的软件套件允许轻松开发和维护测试程序和钻机,其强大的设计使其成为要求苛刻的应用程序的理想选择。

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