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TERADYNE Z18XX 半导体测试机

库存状态:现货

TERADYNE Z18XX是一种最终测试设备,旨在为生产测试提供全面的端到端解决方桉。该系统提供模块化、可扩展性和灵活性,以满足各种应用程序和市场中复杂的测试要求。该单元以一系列高速光学模数转换器(ADC)为特色,提供了将实际模拟信号传输到数字信号中的进一步分析。这是一个必要的步骤,因为大多数测试周期都利用某种模拟输入/输出。OPTIMOS8数据采集平台是这里的关键组成部分,提供高速数据采集和向20 GHZ的转换率。它还包括存储信号的内存手段,从而实现高速数据传输和分析。还支持各种接口:FAT、GP-IB、Taluritan BML等。这台机器是高度模块化的,可以根据任何测试要求量身定制.其所谓的"多层平台"允许不同的测试周期场景,涵盖了广泛的产品。测试周期的每个阶段都可以使用核心编程语言(CPL)进行编程,为用户提供完全定制的测试解决方桉的灵活性和可扩展性。核心编程语言提供了对来自测试工具内的传入数据和对特定信号的反应的快速算法分析。TERADYNE Z 18XX还提供了一套过程控制工具,包括一整套远程控制硬件和软件。先进的故障诊断和控制设备旨在帮助操作员快速准确地检测和隔离资产中的故障。可变清洗能力和温度管理进一步增强了模型的多功能性。这包括驱动可用于加快生产测试周期的特定热化学相互作用。此外,获得专利的加固技术可以防止潮湿和极端温度,使设备极其耐用和可靠。总体而言,Z18XX是一个高度灵活的系统,为生产测试提供了全面而先进的解决方桉。它的模块化、可扩展性、诊断能力和加固功能确保了它在最具挑战性的测试方桉中的使用。

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